多種多様な電子機器に半導体を提供する世界的半導体メーカーのSTマイクロエレクトロニクス(NYSE:STM、以下ST)は、決済端末の設計を簡略化し、新しいEMVCo 3.0のカード、モバイルおよびウェアラブル機器の非接触相互運用性試験への準拠に役立つ革新的な機能を搭載したNFCリーダライタICであるST25R3916を発表しました。

STの新しいNFCリーダライタICは、電磁界強度をEMVCoの制限値内に抑え、距離が無い状態での過出力によるカードやスマートフォンなどへの損傷を回避するダイナミック・パワー・アウトプット(DPO)を搭載した初のNFCリーダライタICであるST25R3911Bの機能を継承しています。ST25R3916には、アクティブ波形補正(AWS)が追加されており、エネルギーを継続的に管理してアンテナの離調に対する波形の安定性を向上させます。DPOとAWSを合わせて使用することで、カード、ウェアラブル機器およびスマートフォンなどをエミュレートするリファレンス近接型ICカード(PICC)を多種使用して実施する試験が簡単になり、新たに設計した端末のEMVCo 3.0認定取得を加速させます。

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