資料の紹介
自動車に高度な安全機能が搭載されるようになり、車載電子機器の数は急増している。さらに自動運転への移行が進むと、必要な電子機器の数はさらに増加する。こうした電子機器は高い信頼性、安全性、堅牢（けんろう）性を備える必要があり、そこに使われる半導体には厳格なテスト要件が求められる。
こうした要求に応えるには、以前から使われている疑似ランダムパターンによるテストでは不十分だ。設計が複雑化しているため、疑似ランダムパターンでは高品質のテスト要件を満たすことが難しくなっているのだ。そこで、ISO 26262に規定されている自動車安全規格に準拠した決定論的パターンを生成し、それを用いてテストすることが必要になる。
本資料では、決定論的パターンによるインシステムテストを実行可能にするツールを紹介する。さらに、このツールを用いて、インシステムテストやインフィールドテストで高品質な決定論的パターンを活用する方法について解説する。この手法はデータセンターやネットワークの設計にもメリットをもたらし、テスト品質を低下させることなくテスト時間を大幅に短縮できるようになるという。
